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F10-HCFilmetrics 薄膜厚度測(cè)量?jī)x

F10-HCFilmetrics 薄膜厚度測(cè)量?jī)x

Filmetrics 薄膜厚度測(cè)量?jī)x F10-HC

以F20平臺(tái)為基礎(chǔ)所發(fā)展的F10-HC薄膜測(cè)量系統(tǒng),能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測(cè)量厚度,加上F10-HC軟件*的先進(jìn)模擬演算法的設(shè)計(jì),能夠在厚膜中測(cè)量單層與多層(例如:底漆或硬涂層等)。

前所未見(jiàn)的簡(jiǎn)易操作界面

現(xiàn)在,具有新樣板模式功能的F10-HC將更容易使用,這個(gè)功能允許用戶(hù)匯入樣品的影像(請(qǐng)參考下頁(yè)),并直接在影像上定義測(cè)量位置。系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)通知使用者本次測(cè)量結(jié)果是否有效,并將測(cè)量的結(jié)果顯示在匯入的影像上讓用戶(hù)分析。

不需要手動(dòng)基準(zhǔn)校正

F10-HC現(xiàn)在能夠執(zhí)行自動(dòng)化基準(zhǔn)矯正以及設(shè)置自己的積分時(shí)間這個(gè)創(chuàng)新的方法不需要頻繁的執(zhí)行基準(zhǔn)矯正就可以讓使用者立即的執(zhí)行樣本的測(cè)量 。

背面反射干擾

背面反射干擾對(duì)厚度測(cè)量而言是一個(gè)光學(xué)技術(shù)的挑戰(zhàn),具有F10-HC系統(tǒng)的*接觸式探頭能將背面反射干擾的影響小化,使用者能以較高的準(zhǔn)確度來(lái)測(cè)量涂層厚度。

附 加 特 性

? 嵌入式在線診斷方式

? 免費(fèi)離線分析軟件

? 精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能,幫助用戶(hù)有效地存儲(chǔ),重現(xiàn)與繪制測(cè)試結(jié)果

 


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