FR-pRo：Thetametrisis膜厚測量儀

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1. 產(chǎn)品概述

1. FR-pRo膜厚儀: 按客戶的需求量身定制的薄膜特性測量工具。

2. FR-pRo膜厚儀是一個模塊化和可擴展平臺的光學(xué)測量設(shè)備，用于測量厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。

3. FR-pRo膜厚儀廣泛應(yīng)用于各種不同的應(yīng)用。 包括：吸收率/透射率/反射率測量，薄膜特性在溫度和環(huán)境控制下甚至在液體環(huán)境下的表征等等…

2. 膜厚儀應(yīng)用

• 大學(xué)&研究實驗室

• 半導(dǎo)體行業(yè)

• 高分子聚合物&阻抗表征

• 電介質(zhì)特性表征

• 生物醫(yī)學(xué)

• 硬涂層，陽極氧化，金屬零件加工

• 光學(xué)鍍膜

• 非金屬薄膜等等…

FR-pRo膜厚儀可由用戶按需選擇裝配模塊，和心部件包括光源，光譜儀（適用于 200nm-2500nm 內(nèi)的任何光譜系統(tǒng)）和控制單元，電子通訊模塊。

此外，還有各種各種配件，比如:

• 用于測量吸收率/透射率和化學(xué)濃度的薄膜/試管架；

• 用于表征涂層特性的薄膜厚度工具；

• 用于控制溫度或液體環(huán)境下測量的加熱裝置或液體試劑盒；

• 漫反射和全反射積分球。

• 通過不同模塊組合，蕞終的配置可以滿足任何終端用戶的需求。

3. 膜厚儀規(guī)格（Specificatins ）

4. 膜厚儀配件（Accessries） 

5. 膜厚儀工作原理

白光反射光譜(WLRS)是測量垂直于樣品表面的某一波段的入射光，在經(jīng)多層或單層薄膜反射后，經(jīng)界面干涉產(chǎn)生的反射光譜可確定單層或多層薄膜（透明，半透明或全反射襯底）的厚度及 N*K 光學(xué)常數(shù)。

* 規(guī)格如有更改，恕不另行通知; 

* 厚度測量范圍即代裱光譜范圍，是基于在高反射襯底折射率為 1.5 的單層膜測量厚度。